14 января 2014
Компания Agilent Technologies представила новое поколение микроскопов для измерений в нанодиапазоне
Компания Agilent Technologies, один из лидеров мирового производства измерительного оборудования, объявила о выпуске нового атомно-силового микроскопа (АСМ) модели Agilent 7500 AFM – передового прибора, устанавливающего новые стандарты производительности, функциональности и эргономики для измерений и манипуляций в нанодиапазоне.
Атомно-силовой микроскоп Agilent 7500 AFM обеспечивает атомарное разрешение за счет использования сканера с диапазоном 90 мкм с обратной связью позиционирования.
Agilent 7500 AFM – это новое поколение приборов, позволяющее расширить область применения метода атомно-силовой микроскопии в науке и промышленности, благодаря высокому разрешению сканирования и точному контролю температуры и среды проведения эксперимента.
Микроскоп Agilent 7500 AFM является идеальным решением для производственно-научных задач в области перспективных направлений в материаловедении, биологии, науке о полимерах, электрохимии, измерениях электрических свойств и нанолитографии.
Микроскоп Agilent 7500 AFM имеет встроенную камеру контролируемой среды с удобным доступом и герметичный отсек для исследуемых образцов, полностью изолированный от остальной системы. Расположенные в камере датчики влажности и температуры постоянно контролируют текущие условия. В камеру можно легко закачивать и откачивать из неё кислород или другие химически активные газы.
Опциональный контроллер температуры образцов обеспечивает точное регулирование в диапазоне от –30 до +250 °C с достаточным разрешением, требуемым для любого эксперимента.
Стандартная сменная насадка сканера системы AFM поддерживает более пяти режимов отображения и при необходимости может легко заменяться специализированными сменными насадками сканера, расширяющими возможности прибора.
Микроскоп Agilent 7500 AFM сразу позволяет получать высококачественное изображение и проводить электрохимические исследования, а специальный контроллер Agilent MAC Mode III обеспечивает измерение электрических свойств на одиночном проходе.
Атомно-силовой микроскоп Agilent 7500 AFM обеспечивает атомарное разрешение за счет использования сканера с диапазоном 90 мкм с обратной связью позиционирования.
Agilent 7500 AFM – это новое поколение приборов, позволяющее расширить область применения метода атомно-силовой микроскопии в науке и промышленности, благодаря высокому разрешению сканирования и точному контролю температуры и среды проведения эксперимента.
Микроскоп Agilent 7500 AFM является идеальным решением для производственно-научных задач в области перспективных направлений в материаловедении, биологии, науке о полимерах, электрохимии, измерениях электрических свойств и нанолитографии.
Микроскоп Agilent 7500 AFM имеет встроенную камеру контролируемой среды с удобным доступом и герметичный отсек для исследуемых образцов, полностью изолированный от остальной системы. Расположенные в камере датчики влажности и температуры постоянно контролируют текущие условия. В камеру можно легко закачивать и откачивать из неё кислород или другие химически активные газы.
Опциональный контроллер температуры образцов обеспечивает точное регулирование в диапазоне от –30 до +250 °C с достаточным разрешением, требуемым для любого эксперимента.
Стандартная сменная насадка сканера системы AFM поддерживает более пяти режимов отображения и при необходимости может легко заменяться специализированными сменными насадками сканера, расширяющими возможности прибора.
Микроскоп Agilent 7500 AFM сразу позволяет получать высококачественное изображение и проводить электрохимические исследования, а специальный контроллер Agilent MAC Mode III обеспечивает измерение электрических свойств на одиночном проходе.